高溫高壓蒸煮儀主要是將待測(cè)品置于嚴(yán)苛之溫度、飽和濕度（100%R.H.）、飽和水蒸氣及壓力環(huán)境下測(cè)試，測(cè)試代測(cè)品耐高濕能力，針對(duì)印刷線(xiàn)路板，用來(lái)進(jìn)行材料吸濕率試驗(yàn)、高壓蒸煮試驗(yàn)等試驗(yàn)?zāi)康摹?br /> 　　
　　如果待測(cè)品是半導(dǎo)體的話(huà)，則用來(lái)測(cè)試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰?，待測(cè)品被放置嚴(yán)苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測(cè)試，如果半導(dǎo)體封裝的不好，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線(xiàn)架之接口滲入封裝體之中，常見(jiàn)的故裝原因：爆米花效應(yīng)、動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦贰⒎庋b體引腳間因污染造成之短路等相關(guān)問(wèn)題。
　　
　　高溫高壓蒸煮儀由一個(gè)壓力容器組成，壓力容器包括一個(gè)能產(chǎn)生100%潤(rùn)濕環(huán)境的水加熱器，待測(cè)品經(jīng)過(guò)PINDAR品達(dá)環(huán)試PCT試驗(yàn)所出現(xiàn)的不同失效可能是大量水氣凝結(jié)滲透所造成的。
　　                                                               
　　一、澡盆曲線(xiàn)：
　　
　　澡盆曲線(xiàn)，又用稱(chēng)為浴缸曲線(xiàn)、微笑曲線(xiàn)，主要是顯示產(chǎn)品的于不同時(shí)期的失效率，主要包含早夭期（早期失效期）、正常期（隨機(jī)失效期）、損耗期（退化失效期），以環(huán)境試驗(yàn)的高溫高壓蒸煮儀來(lái)說(shuō)得話(huà)，可以分為篩選試驗(yàn)、加速壽命試驗(yàn)（耐久性試驗(yàn)）及失效率試驗(yàn)等。進(jìn)行可靠性試驗(yàn)時(shí)"試驗(yàn)設(shè)計(jì)"、"試驗(yàn)執(zhí)行"及"試驗(yàn)分析"應(yīng)作為一個(gè)整體來(lái)綜合考慮。
　　
　　二、常見(jiàn)失效時(shí)期：
　　
　　早期失效期（早夭期，InfantMortalityRegion）：不夠完善的生產(chǎn)、存在缺陷的材料、不合適的環(huán)境、不夠完善的設(shè)計(jì)。
　　
　　隨機(jī)失效期（正常期，UsefulLifeRegion）：外部震蕩、誤用、環(huán)境條件的變化波動(dòng)、不良抗壓性能。
　　
　　退化失效期（損耗期，WearoutRegion）：氧化、疲勞老化、性能退化、腐蝕。